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解析事例

めっき試作・開発案件・不具合品など 様々な製品の 評価・解析(原因調査)を行っています。
今回は マイクロスコープ、SEM/EDSを用いた 表面・断面解析した例につきご紹介します。

 

【事例1】無めっきが発生した 亜鉛ダイカスト素材の製品

目的: 無めっきの原因調査。
実施内容: マイクロスコープおよびSEMにて 表面観察。EDSにて表面の組成確認。
結果: 離型剤 残渣がめっき析出を阻害していた。

 

【事例2】素材径 約35μmの極細線材にめっき加工した製品

目的: めっき膜厚およびボイドなどの不具合がないか?確認。
実施内容: クロスセクションポリッシャーにて 断面観察用サンプル作製。
マイクロスコープおよびSEMにて断面観察、膜厚確認。EDSにて組成確認。
結果: 銅めっき膜厚11~13μm(膜厚指定:10~15μm)。
ボイドなどの析出不具合もなく、均一にめっきが析出していた。


画像左:マイクロスコープにて観察 / 画像中:SEM観察 / 画像右:EDS(元素マッピング)

 

用途に応じた評価・解析

その他 蛍光X線膜厚計、塩水噴霧試験機、耐摩耗試験機、表面張力計、ICP発光分光分析装置なども保有しております。
弊社で加工しているものではなくても解析依頼をお受けしておりますのでご相談下さい。
(めっき専業者様からのご依頼はお断りさせて頂いております。)

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