めっき厚測定方法の種類

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めっき厚測定方法の種類

 

今回はめっき膜厚測定に関しお話させて頂きます。めっき膜厚は耐蝕性、摩耗性など製品に大きく関係してきます。また昨今ではめっき厚を図面指定されるお客様が増えてきています。めっき厚は付いているのか?いないのか?目視では解かりません。そこでめっき厚測定方法についてまとめました。

めっき膜厚の測定方法には大きく分けると測定した製品を使えない状態にする破壊測定法と測定した製品を使用することができる非破壊測定法に分けられます。

製品の個数の問題からほとんどのケースでは、非破壊測定法を用い測定します。弊社では、通常、蛍光X線微小膜厚計で測定しています。

分類

測定方法名

概要

弊社対応可能

破壊測定法

顕微鏡断測定法

製品を切断し、その断面を測定顕微鏡又はデジタルマイクロスコープ等で測定する。

電解式厚さ測定法

逆電解により面、めっきを溶かしこの時の電流、時間、面積から膜厚を割り出す

化学的溶解法

製品の一部又は全部を薬品に溶かし、その面積と金属濃度から膜厚を割り出す。

干渉顕微鏡式測定法

レーザー顕微鏡測定法

めっきをする時にマスキングにより段差を作り、その段差面を干渉顕微鏡又はレーザー顕微鏡で測定する。

 

方が可能

質量計測法

製品を素材とめっき後で重さを計り、その差と表面積から膜厚を割り出す。

測微計測定法

マイクロメータ等で素材とめっき後で厚さを計りその差から割り出す。

非破壊測定法

渦電流式測定法

製品上に高周波電流を流しめっき表層部に渦電流を発生させ渦電流量から膜厚を求める。

 

磁力式測定法

磁性素地との距離で変化する磁気抵抗から膜厚を求める。

蛍光X線式測定法

X線を照射した時に出てくる蛍光X線の量から膜厚を換算する。

β線式測定法

β線を照射した時に後方散乱するβ線の量から膜厚を換算する。

 

  

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